随着人工智能（AI）和物联网（IoT）技术的迅猛发展，两者的融合日益紧密，正深刻影响着各行各业的技术革新。AGIC + IOTE 2025将呈现一场规模空前的AI与IoT专业展览盛会，展览规模将扩大至8万平方米，聚焦“AI+IoT”技术的前沿进展和实际应用，深入探讨这些技术如何重塑我们的未来世界。预计将有超过1000家行业先锋企业参与，展出他们在智慧城市建设、工业4.0、智能家居生活、智能物流系统、智能设备以及数字化生态解决方案等方面的创新成就。
当下，行业趋势瞬息万变，把握机遇、寻求合作至关重要。在此，诚邀您参加2025年8月27-29日在深圳国际会展中心（宝安新馆）举办的IOTE 2025第24届国际物联网展・深圳站。届时，欢迎前往深圳国际会展中心（宝安馆）9号馆C41展位，与我们一同探讨行业前沿趋势、发展方向，探寻合作机会，静候您的光临！
CISC RAIN Xplorer Inline
CISC RAIN Inline Xplorer ：生产线 RFID Inlay和标签的高速测试、编码和加密设备。可集成到任何生产线。
1、主要优点
1）在生产线对标签进行高速性能测试，提供 GPIO 用于外部触发，API 用于完全自动化，坏标弱标标记选项；
2）不降低或限制生产速度
3）支持多个测试点
4）支持多通道测试
2、主要特点
1）测试频率从 800 MHz至1 GHz
2）发射功率范围从-10dBm到28dBm
3）灵敏度-80dBm
4）读取EPC、TID和存储器数据
5）写入EPC和存储区数据（编码写码）
6）测量标签在不同频率下的灵敏度
7）单次读取EPC的测试时间起始为6毫秒
8）集成SAM（安全访问模块）
CISC NFC Xplorer Inline
NFC Xplorer Inline：生产线中 NFC Inlay 和标签的高速测试、编码和加密设备。可集成到任何生产线。
主要优点
1、在生产线对标签进行高速性能测试
2、不降低或限制生产速度
3、支持多个测试点
4、支持多通道测试
主要特点
1、可变 H 场强度
2、完全支持 1 到 6 类标签
3、支持读写模式，用于编码和个性化
4、提供 GPIO 用于外部触发，API 用于完全自动化，坏标弱标标记选项；
5、支持 ISO/IEC 14443 A+B 和 15693 标准
6、测试速度可达每小时 10 万件
CISC RAIN Xplorer
RAID Xplorer：用于测量RFID Inlay、标签、读写器的性能和一致性；RFID标签芯片规范性测试。嗅探功能可监听读写器和标签之间的通信
1、标签性能测试、规范性测试
1）标签唤醒、反向功率及距离测试
2）标签方向灵敏度测试
3）标签反向曲线测试
4）标签数据解码、指令时序、功率及占空比测量
5）ISO/IEC29167加密套件规范性等功能
6）支持SINIAV、ARTESP及Brasil-ID协议
2、读写器性能测试、规范测试
1）Tx VS Rx灵敏度、BLF VS Rx灵敏度测量。
2）接收灵敏度稳定性监控
3）相位及阻抗变化对接收灵敏度的影响测量
4）真实反映读写器与标签之间的通信
5）通过标签仿真模块监控场强
6）读写器规范性测试
NFC Xplorer
测量 NFC 标签的性能和一致性的 NFC 实验室测试仪器，NFC读写器可通过嗅探器功能进行测试。
主要特点：
1、高精度
2、快速且易于使用的图形用户界面
3、支持多种协议
4、标准和用户自定义命令
测试模式 ：
1、标签性能和一致性
2、读写器--标签通信和射频信号分析
支持的标准和协议
1、通信协议
ISO/IEC 14443 A
ISO/IEC 14443 B
ISO/IEC 15693,
ISO/IEC 18000-3M1
ISO 18092 NFC
2、测试标准
ISO/IEC 10373-6
ISO/IEC 10373-7
